作者：李涛, 吴忠旺主编
出版社： 电子科技大学出版社
CIP号：2018038277
书号：978-7-5647-5838-7
出版地：成都
出版时间：2018.2
定价：￥42
《材料分析与测试技术》主要内容包括X射线衍射分析技术（X射线物理基础、X射线衍射 原理、X射线分析方法、X射线分析及应用）；电子光学基础、透射电子显微镜（结构、原理、分析及应用等）；扫描电子显微镜（结构、原理、分析方法及应用等）；电子探针显微分析；表面分析技术；热分析技术；光谱分析技术等内容。本书以培养学生独立分析问题和解决问题的能力为重心，尽量简化理论深度，突出实用性。