作者：
出版社： 电子工业出版社
CIP号：2017307989
书号：978-7-121-33241-8
出版地：北京
出版时间：2018.1
定价：￥79
本书从集成电路测试出发，全面、系统地介绍了硬件安全与可信领域的相关知识。从结构上看，本书共18章，每章针对一个具体的研究领域进行介绍；从内容上看，本书包括了数字水印、边信道攻防、物理不可克隆函数、硬件木马、加密算法和可信设计技术等众多热门的研究方向；从研究对象上看，本书覆盖了FPGA、RFID、IP核和存储器在内的多种器件。书中每章末都提供了大量参考文献，可为读者进一步了解该领域提供帮助。本书指导性和参考性俱佳。