作者：吴建军等编著
出版社： 国防工业出版社
CIP号：2017176160
书号：978-7-118-11395-2
出版地：北京
出版时间：2017.7
定价：￥58
本书系统介绍了装备的工程测试性设计与验证的理论、技术，对国内外军用装备机内测试技术(BIT)和自动测试设备(ATE)的发展进行了研究,指出BIT存在的虚警率高、诊断能力不足、诊断模糊等问题,以及ATE存在的费用高、种类多、操作复杂、离线检查等方面的不足,最后在两种技术的结合、总线技术采用、机电BIT技术的发展、虚拟仪器技术的应用和综合诊断等方面分析了测试性技术未来的发展趋势。