测度值分枝过程引论

作者赵学雷
出版社
出版时间2000-01-01

特色:
本书可供大学数学、物理、生物等系的大学生、研究生、教师及有关的科技人员参考.

本书简要地阐述近年来发展迅速的测度值分枝过程的基本理论,系统介绍超过程的几种构造、研究的思想方法以及超扩散过程在非线性偏微分方程中的应用.结合随机测度的几个特色问题,论述底过程、分枝率和分枝机制对超过程性质的联合作用.本书全面地介绍90年代国内外的*新研究成果,并附有相关领域的简要介绍.

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