技术外溢的度量理论

技术外溢的度量理论

作者:李剑著

出版社: 南京大学出版社

CIP号:2016099136

书号:978-7-305-16893-2

出版地:南京

出版时间:2016.5

定价:¥50


简介

本书包括8章内容,从理论、政策和经验等方面研究如下三个问题:1、技术外溢测度的决定因素和理论表达形式是什么;2、政府补贴政策的帕累托最优性及其对外溢测度的影响是什么;3、如何利用经验数据估计技术外溢测度。

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