作者：汪超, 杨云国主编
出版社： 首都师范大学出版社
CIP号：2016082986
书号：978-7-5656-2908-2
出版地：北京
出版时间：2016.4
定价：￥39.5
《公差配合与技术测量》为满足教学改革的需要和新国家标准内容的更新，在第1版基础上修订而成的。全书内容包括绪论、极限与配合基础、几何公差、检测技术基础、表面缺陷与表面粗糙度的识别及测量、典型零件的公差及检测（包括圆锥、轴承、螺纹、键与花键、齿轮）、尺寸链和实训技能项目优选指导。本书采用最新国家标准，文前配有大量彩插，内容先进、实用，形式新颖，体现“教学做一体”的教学改革思想。