互换性与技术测量

互换性与技术测量

作者:李蓓智主编

出版社: 华中科技大学出版社

CIP号:2016080543

书号:978-7-5680-1705-3

出版地:武汉

出版时间:2016.4

定价:¥30


简介

本书以各类制造装备制件(包括零、部件和整机)的几何参数为研究对象,介绍涉及设计、制造及使用全过程的几何参数精度理论及相应技术规范、精度的测试评价方法以及精度的设计方法及其应用,这些知识和技能是高等工科院校制造类及仪器仪表类等专业的重要技术基础。

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