作者：周清晓著
出版社： 电子工业出版社
CIP号：2017167666
书号：978-7-121-32218-1
出版地：北京
出版时间：2017.9
定价：￥55
本书中主要研究了两种典型的缺陷：Stone-Wales缺陷和空位缺陷；研究了不同种缺陷对碳纳米管和石墨烯的几何结构和电磁学性质产生的影响。然后基于缺陷碳纳米管和石墨烯我们引入了不同的杂质，探究了不同气体分子与缺陷石墨烯的相互作用。为基于碳纳米管和石墨烯基底，设计不同的结构应用于电磁学器件、气体传感器及储氢材料提供了参考。