X射线荧光分析系统技术原理和应用

X射线荧光分析系统技术原理和应用

作者:

出版社: 中国原子能出版社

CIP号:2017164419

书号:978-7-5022-8234-9

出版地:北京

出版时间:2017.7

定价:¥38


简介

本书着重阐述能量色散X荧光分析系统的技术方法、原理和典型应用等内容,以及相关的进展情况和最新成果。内容包括:X射线荧光的基础理论和分析原理;X射线能谱的分析方法;能量色散X荧光的定性和定量分析方法;X射线激发源的基础知识;主要的X射线探测器的介绍;能量色散X荧光分析系统的硬件、软件系统介绍和系统测试;能量色散X荧光分析技术在工业、环境和其他领域中的典型应用。本书可供从事核技术应用、X射线荧光分析技术的相关科研、教学人员参考。

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