公差配合与技术测量

公差配合与技术测量

作者:

出版社: 华中科技大学出版社

CIP号:2017107962

书号:978-7-5680-2837-0

出版地:武汉

出版时间:2017.5

定价:¥30


简介

本书包括精度设计及检测两个方面,共分14章,内容包括绪论、孔与轴的尺寸极限与配合、测量技术基础、几何公差及检测、表面粗糙度及其检测、光滑工件尺寸检测和量规设计、尺寸链基础、零件典型表面的公差配合与检测、渐开线圆柱齿轮精度及检测、有包容要求的机械零件的检测、键与花键的检测、螺纹的检测、齿轮的检测等内容。内容力求贴近生产实践和我国高职高专学生实践学习要求。本书可作为高职院校机械类或近机类各专业教学用书,也可供企业技术工程人员参考。

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