互换性与技术测量

互换性与技术测量

作者:孙红, 陈华, 李炳主编

出版社: 河北大学出版社

CIP号:2015155323

书号:978-7-5666-0935-9

出版地:保定

出版时间:2015.7

定价:¥37.9


简介

本书是高校教材,内容包括:几何量测量技术基础、孔轴的极限与配合、形状和位置公差与检测、表面粗糙度与检测、光滑工件尺寸检验和光滑极限量规设计、滚动轴承的公差与配合、圆锥的公差与配合、键和花键的公差与检测、螺纹公差、圆柱齿轮公差与检测等。作为高校使用的教材是有着一定的出版价值。

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