作者：麦振洪等著
出版社： 科学出版社
CIP号：2015089123
书号：978-7-03-044195-9
出版地：北京
出版时间：2015.4
定价：￥128.0
撰写本书的目的是结合撰写人二十多年来的工作积累和国内外最新进展，系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例，全书分三部分：基本实验装置、基本理论以及薄膜和多层膜微结构表征，共十八章。