作者：张静主编
出版社： 西安电子科技大学出版社
CIP号：2018249807
书号：978-7-5606-5128-6
出版地：西安
出版时间：2018.11
定价：￥26
本书内容包括半导体中的电子状态、半导体中杂质和缺陷能级，半导体中的载流子统计分布，半导体的导电性，非平衡载流子，PN结，金属和半导体的接触，半导体表面与MIS结构，半导体异质结构，半导体的光、电、热、磁效应，PN结二极管，双极型晶体管，结型场效应晶体管，MOS型场效应晶体管。