光学系统像质评价与检测

光学系统像质评价与检测

作者:

出版社: 北京理工大学出版社

CIP号:2018204450

书号:978-7-5682-6295-8

出版地:北京

出版时间:2018.8

定价:¥30


简介

本书包括三部分内容:第1章为光学系统像质评价的理论与方法;第2章为目前国际上最为流行的光学设计软件Zemax的介绍,以及利用Zemax软件来评价一个光学系统成像质量的方法;第3至第6章为光学测量的内容。本书在内容的设置上加入了作者长年从事科学研究的一些新成果,主要有:在光学系统像质评价方面,建立在使用计算机进行光学系统像质评价的方法基础上,除原有的采用手工计算时期大量采用的像质评价指标外,增加了最新大量采用的光学传递函数、点扩散函数、波像差、包围圆能量等像质评价指标;在光学测量方面,除原有的测量方法外增加了用新型液晶图形发生器在光具座上进行光电放大率法的测量,在干涉测量中,加入了利用新型的数字波面干涉仪进行干涉测量实验等方面的内容。

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