强耦合双光学微腔系统中单粒子的操控与测量

强耦合双光学微腔系统中单粒子的操控与测量

作者:

出版社: 国防工业出版社

CIP号:2018115308

书号:978-7-118-11647-2

出版地:北京

出版时间:2018.4

定价:¥79


简介

本书包括:CAIDA宏观拓扑测量项目的测量技术及其拓扑数据的获取方法、宏观拓扑结构中新生与消亡节点特征、Internet宏观拓扑结构的进化特征、Internet宏观拓扑结构的自复制特征、Internet宏观拓扑结构的突变特征、物联网中拓扑结构应用等内容。

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