作者	布什内尔
出版社
出版时间	2005-08-01

特色：
现代的电子设计与测试工程师需要处理数字、存储器和混合信号等几类子系统，每一类都需要不同的测度和可测试性设计方法。本书提供了精心选择的所有这三类电路的重要测试课题。测试的目的是提高产品质量，它意味着“以*小的代价满足用户的需求”。本书包含了确定VLSI芯片级缺陷的测试经济学和技术。它除了可以作为测试课程的教材外，还是电子器件、系统或系统芯片等领域的工程师的一个完整的可测试性指南。 本书反映了当今VLSI测试与可测试性设计的研究现状和发展趋势，它是一本全面覆盖数字、存储器和混合信号电路测试的专著和教材。 本书主要包含三个部分和三个附录： **部分包括测试概论、测试过程和自动测试设备、测试经济学和产品质量、故障模型等内容。 第二部分包括逻辑与故障模拟、可测试性度量、组合ATPG、时序ATPG、存储器测试、基于DSP的模拟和混合信号测试、基于模型的模拟和混合信号测试、延迟测试、IDDQ测试等内容。 第三部分包括DFT和扫描设计、BIST、边界扫描标准、模拟测试总线标准、系统测试和基于核的设计等内容。 附录包括循环冗余码理论、本原多项以及有关测试的书籍。

VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。**部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。 本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。