公差配合与技术测量基础

公差配合与技术测量基础

作者:张茜主编

出版社: 北京航空航天大学出版社

CIP号:2016147575

书号:978-7-5124-2182-0

出版地:北京

出版时间:2016.7

定价:¥22


简介

本书结合了编者多年的教学经验,并参考了许多同类教材,内容涵盖了公差配合和技术测量两大部分。在教材内容的安排上以实用为原则,从生产实际出发,合理确定学生应具备的知识和能力结构,注重突出基础性和应用性。在内容的呈现方式上,尽可能使用图片、实物照片或表格等形式将各个知识点生动地展示出来,强调由浅入深,循序渐进,力求给学生营造一个更加直观的认知环境,让学生更好地理解和掌握所学内容。本书的主要内容包括极限与配合、技术测量基础及常用计量器具、几何公差、公差原则与公差要求、表面粗糙度等。



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