作者：
出版社： 西安电子科技大学出版社
CIP号：2017143205
书号：978-7-5606-4602-2
出版地：西安
出版时间：2017.7
定价：￥29
本书系统、深入地介绍了高速复杂互连的串扰测试基本理论、原理、技术与方法，主要涉及三方面：高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、告诉互连通路串扰故障的ATPG技术。以非理想互联线的渐进式串扰故障、复杂拓扑结构的串扰故障测试技术为核心，论述了复杂互连线串扰测试方法；以过孔、球栅阵列焊点等为对象，论述了复杂互连结构信号传输性能分析等；以串扰尖峰脉冲及时延故障为对象，论述了高速互连通路串扰故障的ATPG技术。