互换性与测量技术

互换性与测量技术

作者:张远平主编

出版社: 西安电子科技大学出版社

CIP号:2017069029

书号:978-7-5606-4487-5

出版地:西安

出版时间:2017.4

定价:¥30


简介

本书按照最新国家标准编写,内容涵盖互换性的基本知识与概念、极限与配合、几何量计量基础及技术、几何公差与检测、表面粗糙度应用与检测、量规设计、标准件及圆锥结合的公差与检测、圆柱齿轮的公差与检测、设计尺寸链解算基础等。

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