本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理，这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的；然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。本书用大量篇幅对现代CMOS器件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论。本书内容详细，基础知识丰富，可作为微电子专业研究生和高年级本科生的教材。本书涵盖了CMOS器件和双极器件、电路相关的基本物理原理知识，因此，对于电子工程师和对电路设计感兴趣的读者来说，本书也具有非常好的参考价值。