作者	(日)远坂俊昭
出版社
出版时间	2006-01-01

特色：

本书主要介绍了锁相环电路的设计与应用，内容包括锁相环电路的测试与评价方法、锁相环电路特性改善技术、锁相环电路特性改善技术等。