作者：
出版社： 中国宇航出版社
CIP号：2019190796
书号：978-7-5159-1679-8
出版地：北京
出版时间：2019.8
定价：￥128.0
本书是美国可靠性领域著名专家Wayne B.Nelson博士撰写的关于加速试验设计与数据统计分析方面的经典著作，系统介绍了加速试验的统计模型、试验方案设计方法和数据分析方法，并给出了大量的相关实例。本书有助于开展更高效的加速试验，获取更有效、准确的信息。