作者：
出版社： 世界图书出版公司北京公司
CIP号：2015233389
书号：978-7-5192-0267-5
出版地：北京
出版时间：2015.9
定价：￥55.0
本书将读者带进了逆问题领域。逆问题的研究对许多科技领域诸如地球物理探测、系统识别、无损检测及超声层析成像等，有着重要的作用。该书分两部分。第一部分讲不适定问题的基本概念和困难。书中通过几个简单的解析数值算例研究了线性不适定问题正则法的基本特征。该书的第2部分详细地研究了三个特殊非线性逆问题，即逆谱问题、电阻抗断层成像逆问题和逆散射问题。