作者	张洪源
出版社
出版时间	2006-01-01

特色：

本书主要阐述了几何量测量基础、尺寸公差与孔轴配合、形位公差与检测、光滑极限量规、表面粗糙度与检测、圆锥公差与检测、尺寸链等内容。