作者	葛长虹
出版社
出版时间	2006-04-01

特色：

本书分别介绍了干扰的产生、干扰波的传播、工业测控系统的电磁干扰抑制、单片机测控系统的抗干扰技术、微机测控系统的抗干扰技术、工业测控系统抗干扰应用等内容。