互换性与技术测量

互换性与技术测量

作者:王晓方等编著

出版社: 中国轻工业出版社

CIP号:2015012293

书号:978-7-5184-0347-9

出版地:北京

出版时间:2015.3

定价:¥42.0


简介

本书内容包括:互换性与技术测量的基本概念;几何量测量技术基础;孔、轴尺寸公差与配合;几何公差与检测;表面粗糙度与检测;光滑工件尺寸检验与光滑极限量规设计;滚动轴承的公差与配合;圆锥的公差与配合;键和花键的公差与检测;螺纹公差与检测;圆柱齿轮公差与检测共十一个模块。

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