公差配合与几何测量检测技术

公差配合与几何测量检测技术

作者:朱红主编

出版社: 机械工业出版社

CIP号:2015011404

书号:978-7-111-49218-4

出版地:北京

出版时间:2015.2

定价:¥26.0


简介

本书由绪论、基础知识和知识应用三大部分组成,每个部分的内容既相互联系又各自独立,内容包括:公差测量技术概述、尺寸公差、长度测量、几何公差与检测、表面粗糙度的测量、滚动轴承的公差与配合、键的公差配合、及螺纹公差配合与检测等。重点介绍了各类公差选择、标注、查表与解释,以及几何量的常见检测方法和数据处理。

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