作者：
出版社： 科学出版社
CIP号：2018225807
书号：978-7-03-058977-4
出版地：北京
出版时间：2018.1
定价：￥128
全书分为5章，第1章介绍HEMP技术发展历程、环境、试验、防护等基本概念；第2章介绍HEMP环境产生的物理机理以及辐射模拟环境；第3章介绍HEMP对电子系统的干扰损伤效应以及传导模拟环境；第4章介绍HEMP模拟试验技术；第5章介绍电子系统HEMP防护技术。编写力求提纲挈领、简明扼要，较完整的反映国际HEMP技术研究经验和思路。