作者：
出版社： 厦门大学出版社
CIP号：2016257380
书号：978-7-5615-6283-3
出版地：厦门
出版时间：2016.12
定价：￥32
本专著主要基于软件领域数据的特性和预测模型的不同应用场景，对软件缺陷预测前言的若干关键技术进行了研究和总结。主要内容包括迁移学习环境下的缺陷预测技术，半监督环境下的缺陷预测技术，主动学习环境下的缺陷预测技术，基于核理论的缺陷预测技术，所应用的理论、 算法及应用成果的介绍和展示。