互换性与技术测量

互换性与技术测量

作者:杨化书主编

出版社: 北京理工大学出版社

CIP号:2016230745

书号:978-7-5682-3139-8

出版地:北京

出版时间:2016.9

定价:¥20


简介

本书可作为高等院校相关专业“互换性与技术测量”课程的教学用书,也可供机械设计制造工程技术人员参考。本书全面系统地介绍了互换性与技术测量的基础知识,内容包括绪论、几何量测量基础、极限与配合及检测、几何公差与检测、表面粗糙度轮廓及其检测、光滑极限量规设计、滚动轴承的公差与配合、键和花键连接的公差与检测、螺纹公差与检测、渐开线圆柱齿轮公差与检测,共计9章。本书编写按照最新的国家标准,重点突出“产品几何技术规范(GPS)”系列国家标准的执行。并根据教学大纲的基本要求,重点突出基础内容,力求语言简练,条理清楚。在各章节中附有习题,以便学生对所学内容进行总结、巩固和应用。

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