作者：郭海, 赵晶莹编著
出版社： 黑龙江科学技术出版社
CIP号：2016190556
书号：978-7-5388-8901-7
出版地：哈尔滨
出版时间：2016.7
定价：￥35
本书将机器学习技术应用到纳米电介质研究中，利用支持向量机分类器、主成分分析、集成回归模型等方法，检测识别聚酰亚胺基复合薄膜类型，分析和预测复合薄膜的电气性能。利用集成学习的思想构建SGBS集成回归模型和RF-MLP集成回归模型分别预测聚酰亚胺基复合薄膜的击穿场强和介电损耗性能。