作者	[美]AlfredL.Crou
出版社
出版时间	2006-06-01

特色：

本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。