作者：李兴冀著
出版社： 哈尔滨工业大学出版社
CIP号：2017025022
书号：978-7-5603-6467-4
出版地：哈尔滨
出版时间：2017.3
定价：￥38
本书主要介绍了解空间辐射环境的特征、双极器件电离辐射损伤、位移辐射损伤及电离/位移协同效应的基本特征与机理、双极器件抗辐射加固途径等内容。本书适用于从事电子器件辐射效应研究和电子器件设计、开发及研制的工程师与科技工作者参考使用。