作者：
出版社： 北京日报出版社
CIP号：2016076434
书号：978-7-5477-2077-6
出版地：北京
出版时间：2016.5
定价：￥50
本书内容包括常用半导体元件性能与测试、线性放大电路制作与测试、集成运算放大器应用电路制作与测试、波形产生和变换电路制作与测试、电源电路制作与测试、基本逻辑电路制作与测试、组合逻辑电路制作与测试、触发器和时序逻辑电路制作与测试、数/模和模/数转换电路制作与测试。将理论教学与实践训练有机地融于一体。本书可供从事电子技术的工程技术人员或电子技术爱好者参考。