作者	孔学东、恩云飞
出版社
出版时间	2006-09-01

特色：

本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。