作者：
出版社： 中国科学技术出版社
CIP号：2019109464
书号：978-7-5046-8300-7
出版地：北京
出版时间：2019.6
定价：￥190.0
本书是一本引进自Plural出版社的医学专著。由美国俄亥俄州立大学听力学博士Devin L. McCaslin编写，北京大学航天临床医学院等多家医学院校三十位专家联合翻译。眼震电图描记法目前已普遍用于前庭眼反射检查，包括视动中枢检查、位置试验、冷热试验等，是诊断眩晕症的重要手段。本书系统地介绍了眼震电图描记法的基础理论，测试前准备、测试步骤、结果解读和临床意义、及其他前庭功能测试等内容，可为眩晕症诊断提供全面的权威指导，是神经内科医师的案头必备参考书。