工程纳米测量基础

《工程纳米测量基础》

作者:

出版社: 浙江大学出版社

CIP号:2017262310

书号:978-7-308-17563-0

出版地:杭州

出版时间:2017.1

定价:¥98


简介

本书从先进制造技术质量控制角度,介绍了测量基本知识,精密测量仪器设计原则,长度测量溯源,位移测量,表面形貌测量仪器,扫描探针和粒子束显微,表面形貌特征描述,坐标测量,质量和力测量,测量国际单位及其在NPL实现等。本书可用作高校测量技术、机械设计和机械加工等专业的基础教材,也可作为相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员的参考用书。

推荐

车牌查询
桂ICP备20004708号-3