公差配合与技术测量

《公差配合与技术测量》

作者:封金祥, 胡建国主编

出版社: 北京理工大学出版社

CIP号:2015318877

书号:978-7-5682-1641-8

出版地:北京

出版时间:2015.12

定价:¥10.0


简介

《公差配合与技术测量》是高等职业技术院校机械类各专业的重要技术基础课,是联系机械设计和制造工艺的纽带。它包含公差配合与技术检测两大方面的内容,把标准化和计量学两个领域的相关内容有机地结合在一起,与机械设计、机械制造以及质量控制等多方面密切相关,是机械工程技术人员和管理人员必备的基本知识和技能。

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