作者：王承, 刘治国编著
出版社： 国防工业出版社
CIP号：2015083722
书号：978-7-118-09986-7
出版地：北京
出版时间：2015.6
定价：￥58.0
本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。