作者：范春利著
出版社： 科学出版社
CIP号：2015253304
书号：978-7-03-046127-8
出版地：北京
出版时间：2015.10
定价：￥80.0
基于表面测温的边界及内部缺陷的定量识别算法研究，即是目前红外无损检测领域从定性到定量发展的关键理论基础，同时，作为导热反问题的一个分支，也是目前导热反问题理论研究的一个前沿和热点。本书在国家自然科学基金、军内科研、维修改革等项目的支持下，对试件或设备边界及内部缺陷的定量识别问题进行了系统的研究，提出了一系列既和实际应用联系紧密又有理论价值的研究成果。该研究具有重要的理论和应用价值。