作者：
出版社： 化学工业出版社
CIP号：2019237742
书号：978-7-122-35551-5
出版地：北京
出版时间：2019.10
定价：￥138.0
《二维X射线衍射》一书系统介绍了二维衍射的原理、实验方法、应用技术及领域。内容涵盖X射线光源、二维探测器、测角仪和光路，以及衍射数据处理与解析（物相定性、微结构分析、残余应力分析、织构分析、结晶度测量、薄膜分析、小角散射等），并给出了很多先进材料和药物等的具体分析实例，如用于检查各种样品，包括金属、聚合物、陶瓷、半导体、薄膜、涂料、油漆、生物材料、复合材料等。本书可供材料、化学、物理、药物等专业研究人员，以及从事X射线衍射结构表征相关的研究生、检测人员、技术人员等参考阅读。