基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究

《基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究》

作者:

出版社: 西安交通大学出版社

CIP号:2017178054

书号:978-7-5605-9902-1

出版地:西安

出版时间:2017.7

定价:¥29.8


简介

本文针对这两种不同的电介质材料,研究如何准确建立微观结构模型,并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性,分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性,分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性,进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性,指导材料的应用具有重要意义。

推荐

车牌查询
桂ICP备20004708号-3