NoC（片上网络）技术从体系结构上解决了 SoC（片上系统）的总线结构带来的一系列问题，具有高性能低功耗、良好的全局时钟同步策略、良好的可重用性、良好的可扩展性等优点，是下一代集成电路发展的趋势。然而随着 NoC 集成的 IP（知识产权）核数目的增多，其功能越来越复杂，使得对 NoC 的测试正面临着巨大的挑战，迫切需要研究有效的测试技术和优化方法。本书主要研究NoC测试问题和测试优化问题的相关理论和应用，从测试结构和测试规划两方面进行研究，重点研究了测试规划优化问题。从分析NoC的组成特性和影响测试的相关因素入手，对影响因素进行优化，并结合智能优化算法进行优化。