作者：李志平著
出版社： 北京航空航天大学出版社
CIP号：2016289319
书号：978-7-5124-2317-6
出版地：北京
出版时间：2016.11
定价：￥19
本文对电磁辐射与散射测量中存在的普遍性近场问题进行了探索性的研究，内容涵盖了近场辐射计算、近场成像和单双站散射测量近远场变换的基本原理、方法和关键技术。书中详细阐述了口径天线近场辐射的空域、谱域和时域理论，理论性地解析证明了卷积核与角谱传递函数的傅里叶变换关系；基于口径辐射理论和近场反投影概念阐述了普适性的近场双站成像方法；基于电磁场的谱域理论阐述了单双站散射严格的近远场变换关系。本书面向天线、雷达目标特性、雷达成像和制导等学科领域的研究人员、工程技术人员，具有较高的参考价值。