互换性与技术测量

《互换性与技术测量》

作者:邢闽芳主编

出版社: 清华大学出版社

CIP号:2017031104

书号:978-7-302-46643-7

出版地:北京

出版时间:2017

定价:¥38


简介

全书共分8章,内容包括:绪论、轴和孔结合的极限与配合,测量技术基础,几何公差及检测,表面粗糙度及其检测,光滑工件尺寸检测和量规设计,零件典型表面的公差配合与检测,尺寸链。

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