作者：
出版社： 同济大学出版社
CIP号：2017090196
书号：978-7-5608-6932-2
出版地：上海
出版时间：2017.5
定价：￥46
针对极紫外和软X射线常规周期多层膜偏振元件带宽窄导致的测试困难的现状，本书首次提出了非周期多层膜宽带偏振光学元件的方法，克服了常规周期多层膜带宽窄、测试时元件需要平移或旋转的难题。本书适合物理学科研究人员及工作人员阅读参考。