作者：吴爽, 李健主编
出版社： 同济大学出版社
CIP号：2016023926
书号：978-7-5608-6197-5
出版地：上海
出版时间：2016.1
定价：￥32.8
本书主要内容包括尺寸公差与检测、形位公差及检测、表面粗糙度及检测、技术测量基础、圆柱螺纹公差及检测、平键、花键联接的公差与检测、圆锥的公差与检测、尺寸链、渐开线圆柱齿轮的公差与测量、综合检测实例。本书适合于普通高等学校机械类各专业师生在教学中使用，也可供从事机械设计、机械制造、标准化、计量测试等工作的工程技术人员参考使用。