作者：
出版社： 人民邮电出版社
CIP号：2016022285
书号：978-7-115-41454-0
出版地：北京
出版时间：2016.3
定价：￥49
本书介绍性能测试的完整生命周期，配合最佳实践，帮助读者了解应用程序性能测试的方法、目标以及如何进行。本书配有真实的示例和实用的建议，帮助读者认识不完整的测试策略的陷阱所在，并且给出一个健壮的、结构完备的方案，帮助读者很好地测试应用性能。