作者	姜明灿，张正祥，吴水萍 主编
出版社
出版时间	2006-12-01

特色：

本书主要内容包括：测量技术基础、尺寸公差与检测、形位公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度公差与检测等。