作者：
出版社： 湖南科学技术出版社
CIP号：2017309911
书号：978-7-5357-9639-4
出版地：长沙
出版时间：2017.12
定价：￥45
本文根据高速电路的基本理论，围绕国家自然科学基金项目“高速SIP/PCB系统中的SSN噪声和ISI干扰分析和“高速高密度互连封装的电源完整性与可靠性分析的研究内容和目标，在前人的研究成果的基础上，较系统地分析了高速数字电路的实际应用中所表现的几种常见信号完整性问题及改进方法。